تهران- دانشگاه تربیت مدرس- گروه مهندسی مواد، دانشکده فنی و مهندسی
چکیده
در این تحقیق ذرات نانوساختار سیلیکات روی با فرآیند سل- ژل از پیشمادههای تترا اتیل اکسی سیلان و نیترات روی سنتز شدند. با آنالیزهای DTA از ژل و XRD از ژل کلسینه شده تغییرات ساختاری در دماهای مختلف بررسی شدند. نتایج XRD تشکیل ساختارهای آمورف و تشکیل فاز کریستالی Zn2SiO4 را با افزایش دمای کلسیناسیون نشان دادند. با توجه به الگوی XRD از نمونههای کلسینه شده در دماهای 800 و 900 درجه سانتیگراد و روش شرر به ترتیب اندازه دانه‌ها 13 و 27 نانومتر به دست آمد. همچنین آنالیز حرارتی مواد اولیه در دماهای کم پیکهای گرماگیر تبخیر حلال و تجزیه فازهای آلی و در دمای بالا پیک گرمازای تشکیل فاز Zn2SiO4 را نشان داد. علاوه بر این تصاویر SEM نشان دادند که تفاوت بین اندازه ذرات فاز آمورف و فاز کریستالی ناچیز است و محدوده آن بین 50 تا 400 نانومتر می‌باشد. همچنین آزمون اسپکتروسکوپی UV نیز برای بررسی خواص فوتوکاتالیستی نتایج قابل قبول نشان داد.
)
